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    太陽(yáng)能電池組件綜合缺陷紅外檢測

    簡(jiǎn)要描述：對太陽(yáng)能電池/組件加載電壓后，使之發(fā)光，再利用近紅外相機攝取其發(fā)光影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴散長(cháng)度，缺陷處因具有較低的少子擴散長(cháng)度而發(fā)出較弱的光，從而形成較暗的影像。

    • 產(chǎn)品型號：
    • 廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商
    • 更新時(shí)間：2023-02-23
    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量：2479

    詳細介紹

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    缺陷檢測原理

    電致發(fā)光亮度正比于少子擴散長(cháng)度：
    對太陽(yáng)能電池/組件加載電壓后，使之發(fā)光，再利用近紅外相機攝取其發(fā)光
    影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴散長(cháng)度，缺陷處因具有較低的少子擴散
    長(cháng)度而發(fā)出較弱的光，從而形成較暗的影像。

    有效定位缺陷類(lèi)型：
    通過(guò)對產(chǎn)品缺陷圖像的觀(guān)察 通過(guò)對產(chǎn)品缺陷圖像的觀(guān)察，可以有效的發(fā)現硅片 可以有效的發(fā)現硅片、擴散、刻蝕、印刷、燒結等工藝過(guò)程存在的問(wèn)題，方便進(jìn)行分析以及問(wèn)題的解決，對提高產(chǎn)品質(zhì)量
    和產(chǎn)品效率，改善工藝和穩定產(chǎn)量起到了的幫助作用。

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